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美国TA DIL 832 真实差分高分辨热膨胀仪

描述:凭借以下令人印象深刻的独特技术和功能,DIL 832 成为所有研发实验室执行机械和尺寸特性表征的理想工具:TA 仪器* True Differential™ 技术、获得的 1 nm 分辨率光学编码器、一系列新型动态加热炉以及新款线性样品加载电机。打造业界性能Z佳的卧式推杆膨胀仪,不受被测应用或材料的影响。

更新时间:2021-12-14
产品型号:
厂商性质:代理商
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美国TA DIL 832 真实差分高分辨热膨胀仪 产品介绍:


高灵敏度光学编码器和 TA *真实差分技术,适用于要求zui为严苛的研发实验室。


凭借以下令人印象深刻的独特技术和功能,DIL 832 成为所有研发实验室执行机械和尺寸特性表征的理想工具:TA 仪器* True Differential™ 技术、获得的 1 nm 分辨率光学编码器、一系列新型动态加热炉以及新款线性样品加载电机。打造业界性能*的卧式推杆膨胀仪,不受被测应用或材料的影响。


 5000μm 总测量范围内,线性电机可确保 0.01  1.00 N 样品加载力,力解析度为 0.01 N,线性度优于 0.01 N


获得的新型增量式光学编码器将长度测量的真实分辨率降至 1 nm,达到同类产品的*水准。支持测量短小样品,同时保持优异 ∆L 分辨率。


应用新型设计的测量头外壳及有源电气热稳定性确保检测核心具备*的稳定性。DIL 832  TA 仪器的* True Differential™ 技术与 TA 仪器加热炉的独特设计相结合,提供业界的 0.01 x 10-6 K-1 CTE 精确度。


DIL 832 自动记录初始样品长度,支持的zui大样品长度为 25 mm,zui大直径为 6 mm


水冷炉提供动态性极强的温度编程功能,zui大加热速率为 50 K/分钟,由 1000 °C 冷却至室温仅需 13 分钟,仅为同类仪器的 1/15


集成电子元器件提供网络连接,而集成触摸屏允许用户直接在仪器中执行多项功能,实时显示测量参数和测试完成时间。




美国TA DIL 832 真实差分高分辨热膨胀仪 技术参数:


膨胀仪类型膨胀仪类型
样品尺寸长度/直径0 至 25 mm/12 mm
样品支架材质:熔融石英或, Al2O3
接触力:0.01 – 1.0 N
长度变化范围:5000 µm
分辨率 ∆L:1 nm,   0.05°C
精确度 (α):0.01 x 10-6 K-1
气体环境:真空、惰性气体、空气


具备质量流量控制器及真空装置的气体装置(选配)

温度范围:RT – 1100°C
RT – 1500°C
RT – 1700°C
加热速率50°K/min
冷却速率1100°C – RT: 短时间为 13 分钟
1500°C – RT: 不足一小时
1700°C – RT: 约一小时




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